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研究用高純度シリコンウェハー 1枚入 4×N型

通常価格(税込):
8,690
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研究用高純度シリコンウェハー 1枚入 4×N型

JANコード
4582619666014
入数
1枚
特徴
●研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
仕様
●サイズ(インチ)×伝導型:4×N型
●OF長さ(mm)×ウェハー厚(μm):32.5±2.5×525±25
●入数:1枚
●製造方法:CZ法
●面方位:100
●OF位置:110
●抵抗値:0.1〜100Ω・cm※低抵抗:≦0.02Ω・cm、高抵抗:≧500Ω・cm
●パーティクル:パーティクル不問
●※本製品は半導体向けの結晶材を使用し製造加工しておりますが、材料純度に関する証明等に対応できるものではありません。
●方位(切断角度)、OF位置角度公差、厚み公差をより小さく高精度に加工することができ、エッチングでの正確な溝形成が可能となります。
●多様な形状加工と表面処理が可能です(例:ざぐり加工、穴あけ加工、酸化膜付きウェハー)。
●ご希望の比抵抗率、ウェハー厚みに合わせた対応が可能です。
●8インチ、12インチに関しては随時お問い合わせください(最低単位25枚)。

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