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FIB試料調整用試料台 SG-003Ni

通常価格(税込):
52,800
40,800円 (販売価格 44,880 円)
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FIB試料調整用試料台 SG-003Ni

型番
SG-003Ni
入数
1箱(30枚入り)
特徴
●TEMでの観察・分析用に、FIB加工機で試料を薄片化する際に使用される試料台です。
●薄くなっている試料固定部が3ヵ所あります。
●高純度素材を使用しています。
●試料固定部認識用ピンホール・表裏認識用円形パターンがあります。
仕様
●材質:ニッケル
●★厚み(μm):30
●入数:1箱(30枚入)
●ベース部直径:約3mm
●※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。

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